通信用光電子器件高溫貯存試驗
健明迪檢測提供的通信用光電子器件高溫貯存試驗，通信用光電子器件高溫貯存試驗 試驗范圍 1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機、光接收機和光中繼器的關(guān)鍵器件，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
通信用光電子器件高溫貯存試驗 試驗范圍
1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機、光接收機和光中繼器的關(guān)鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。
通信用光電子器件高溫貯存試驗 試驗標準
試驗標準
GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
EN 60749-6-2002 半導(dǎo)體器件 機械和氣候試驗方法 第6部分：高溫儲存
GB/T 4937.23 半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法 第23部分：高溫工作壽命
DZ 0039.11-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗條件及方法 高溫/高壓綜合試驗
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（混合模式）綜合
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
EN 60749-6-2002 半導(dǎo)體器件 機械和氣候試驗方法 第6部分：高溫儲存
GB/T 4937.23 半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法 第23部分：高溫工作壽命
DZ 0039.11-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗條件及方法 高溫/高壓綜合試驗
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（混合模式）綜合
通信用光電子器件高溫貯存試驗 試驗背景
電子元器件的失效很多是由于環(huán)境溫度造成體內(nèi)和表面的各種物理、化學(xué)變化所引起的。溫度升高后，使得化學(xué)反應(yīng)速率大大加快，其失效過程也得到加速，使有缺陷的元器件能及時暴露。通信用光電子器件高溫貯存試驗可確定光電子器件能否經(jīng)受高溫下的運輸和貯存，以保證光電子器件經(jīng)受高溫后能在規(guī)定條件下正常工作。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的高溫貯存試驗服務(wù)。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的高溫貯存試驗服務(wù)。
通信用光電子器件高溫貯存試驗 試驗方法
按以下程序進行試驗：
a）試驗前測試試樣的主要光電特性；
b）把試樣貯存在規(guī)定試驗條件的恒溫控制試驗箱中，在開始計時之前應(yīng)有足夠升溫時間，使所有試樣處在規(guī)定的溫度下，溫度傳感器應(yīng)位于工作區(qū)內(nèi)最低溫度的位置處；
c）在達到規(guī)定的試驗時間后，把試樣從試驗環(huán)境中移出，放置24 h，使之達到標準測試條件，并對試樣光電特性進行測試。
a）試驗前測試試樣的主要光電特性；
b）把試樣貯存在規(guī)定試驗條件的恒溫控制試驗箱中，在開始計時之前應(yīng)有足夠升溫時間，使所有試樣處在規(guī)定的溫度下，溫度傳感器應(yīng)位于工作區(qū)內(nèi)最低溫度的位置處；
c）在達到規(guī)定的試驗時間后，把試樣從試驗環(huán)境中移出，放置24 h，使之達到標準測試條件，并對試樣光電特性進行測試。
